고속신호의 무결성 검증 방법 및 Next Generation Interface 소개
- 이두진
- 조회수815
- 2020-11-11
Webminar 입니다.
2020-11-19 10:30~12:00
http://www.e4ds.com/webinar_detail.asp?idx=639
최근 개발 되고 있는 DUT 에는 고속 신호 전송을 위한 Serial Link 기술이 다양하게 적용되고 있습니다.
회로의 집적도 및 복잡도가 높아지고, 설계의 난이도가 향상되고 있어 개발을 위해 엔지니어가 극복해야 할 문제는 점점 가중됩니다. 또한, 이는 설계 마진 확보의 어려움으로 연결됩니다.
대부분의 High Speed Serial Interface 들이 10Gbps 이상의 data rate를 지원하고 있거나, 혹은 그 이상의 스피드를 로드맵으로 제시하는 상황에서 기술적인 문제점을 해결할 수 있도록 설계를 위한 모델링 및 해석 기술에 대한 연구가 활발히 전개되고 있습니다.
본 세션에서는 고속 신호 전송에서의 오실로스코프의 활용 방안과 기술에 대해 고찰하고 차세대 인터페이스의 동향을 살펴보겠습니다.
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